北京，2023年4月21日/美通社/——全球领先的全息增强现实（AR）技术提供商WiMi全息云股份有限公司（NASDAQ:WiMi）（“WiMi”或“公司”）今天宣布开发WiMi数字全息显微镜系统，以解决相位信息获取困难、零阶图像，以及光学技术中的共轭图像干涉。该系统采用相干光学成像理论，结合数字全息术，将应用于微/纳米部件的三维表面形状检测。
该系统使用数字全息角谱重建算法，该算法允许获得光学部件上表面划痕的位相位分布，并使用扫描和缝合技术检测整个区域。在系统设备的基础上，增加了一个3D精密扫描元件来测量表面划痕，并将其拼接到整个全息立体图像中，使系统能够对物体检测区域的完整3D形态进行成像。
使用电荷耦合器件代替传统的全息记录，使用角度算法模拟光学器件的衍射过程，并进行数值模拟再现原始物体光场的波前表面分布，使全息记录、存储、传输、，并且再现可以数字化，以达到微米/纳米精度的要求，具有全视场、非接触和无损的优点。
该系统使用全息术产生实时、高分辨率的3D数字图像。全息图像是由参考光与物体光的干涉产生的，然后由全息相机记录并传输到计算机进行实时数字重建。在这个过程中，全息图在几微秒内被捕获并重建。然后，系统的专用数据采集和分析软件对生成的目标全息图进行分析，以生成以下内容：
光强图：提供与传统显微镜具有相同对比度的图像。
相位图：为被测物体的精确三维测量提供量化值。
利用反射数字全息术，相位图以亚纳米精度揭示了被测物体的表面光强图形貌。在透射数字全息术中，相位图显示了被测透明样品的相移信息，这些值主要为生物样品提供了必要的定量信息。这种多样化的数字全息术方法为视频和计算显微镜图像级别提供了更高的精度。然而，WiMi还将调整光学显微镜中的各种光学参数，包括光学相位对比度、数字图像聚焦、图像倾斜调整和消除环境扰动。
WiMi的数字全息显微镜系统为微光学元件的3D表面形状检测提供了一种全视场、无损和快速的定量检测方法。随后，通过对数据准确性的进一步分析和对多个样品的实验研究，该系统有望用于微纳组件的预处理、优化和后续质量评估。
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